ISO (International Organization for Standardization) opublikowało zbiór (41) dokumentów i Międzynarodowych Standardów stosowanych w analizach chemicznych powierzchni w różnych dziedzinach nauki. Zbiór opracowany przez Komitet Techniczny ISO – ISO / TC 201 składa się 4 standardów, sześciu sprawozdań technicznych i jednej specyfikacji technicznej. Nowa płyta zawiera między innymi normy odnoszące się do technik analitycznych, takich jak:
spektroskopia elektronów Augera (AES)
spektrometriaemisyjna (GDS)
spektrometria mas jonów wtórnych (SIMS)
spektroskopia fotoelektronów rentgenowskich (XPS)
Techniki te znajdują zastosowanie w takich dziedzinach, jak: ceramika, metalurgia, kompozyty, przyczepność, zużycie i korozja cienkich warstw i powłok, materiały do implantacji, katalizy, mikroelektroniki i nadprzewodników. ISO / TC 201 opracowuje obecnie nowe standardy w dziedzinie mikroskopii sił atomowych (AFM) i promieniowania X.
